Stochastic modelling and analysis: a computational approach/

Main Author: Tijms, Henk C.
Corporate Author: John Wiley & Sons
Format: Book
Language:English
Published: Chichester New York: Wiley, c1986
Series:Wiley series in probability and mathematical statistics. Applied probability and statistics
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Εθνικό και Καποδιστριακό Πανεπιστήμιο Αθηνών003.76 TIJ1ΠροβολήOPAC
Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο519.2 TIJ1ΠροβολήOPAC
Πανεπιστήμιο Θεσσαλίας519.2 TIJ1ΠροβολήOPAC