Statistical methods for reliability data /

Main Author: Meeker, William Q.
Other Authors: Escobar, Luis A.
Format: Book
Published: New York: John Wiley & Sons, c1998
Series:Wiley series in probability and statistics. Applied probability and statistics section
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Πανεπιστήμιο ΜακεδονίαςTS173.M44 19981ΠροβολήOPAC
Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο620.00452 MEE2ΠροβολήOPAC
ΤΕΙ Ανατολικής Μακεδονίας & Θράκης2ΠροβολήOPAC