Smart inspection systems : techniques and applications of intelligent vision /

Main Author: Pham, D. T.
Other Authors: Alcock, R. J.
Format: Book
Language:English
Published: Amsterdam ; Boston : Academic Press, ©2003.
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
ΤΕΙ ΚρήτηςTS156.2 .P43 20032ΠροβολήOPAC
Πανεπιστήμιο Κύπρου - Ανοιχτό Πανεπιστήμιο Κύπρου2ΠροβολήOPAC