Structural and chemical analysis of materials : X-ray, electron and neutron diffraction, X-ray, electron and ion spectrometry, electron microscopy /

Main Author: Eberhart, J. P.
Corporate Author: Wiley
Format: Book
Language:English
Published: Chichester ; New York: John Wiley, 1991
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Πανεπιστήμιο Θεσσαλίας620.112 99 EBE1ΠροβολήOPAC
ΤΕΙ Ανατολικής Μακεδονίας & Θράκης620.11299 EBE1ΠροβολήOPAC