Terrestrial neutron-induced soft errors in advanced memory devices /
| Other Authors: | |
|---|---|
| Format: | Book |
| Published: |
Hackensack, NJ.:
World Scientific,
c2008
|
| Subjects: |
| Βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός Αντιτύπων | Πληροφορίες | Κατάσταση |
|---|---|---|---|---|
| Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο | 621.39732 TER | 1 | Προβολή | OPAC |
| ΤΕΙ Ανατολικής Μακεδονίας & Θράκης | 1 | Προβολή | OPAC |