Holdings: Optical metrology/

Cover Image

Optical metrology/

Main Author:	Gasvik, Kjell J.
Corporate Author:	Wiley
Format:	Book
Language:	English
Published:	Chichester New York: J. Wiley, 1995
Edition:	2nd ed.
Subjects:	Οπτικές μετρήσεις > Συνέδρια

Βιβλιοθήκη	Ταξιθετικός αριθμός	Αριθμός Αντιτύπων	Πληροφορίες	Κατάσταση
Δημοκρίτειο Πανεπιστήμιο Θράκης	QC 367	1	Προβολή	OPAC
ΤΕΙ Αθήνας		1	Προβολή	OPAC

Cannot write session to /tmp/vufind_sessions/sess_540200t17bdr8ihbsur1dlk153