Gamma- and x-ray spectrometry with semiconductor detectors/
| Main Author: | |
|---|---|
| Corporate Author: | |
| Other Authors: | |
| Format: | Book |
| Language: | English |
| Published: |
Amsterdam ; New York:
North-Holland,
c1988
|
| Subjects: |
| Βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός Αντιτύπων | Πληροφορίες | Κατάσταση |
|---|---|---|---|---|
| Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο | 539.7222 DEB | 4 | Προβολή | OPAC |
| Δημοκρίτειο Πανεπιστήμιο Θράκης | QC 793 .5 | 2 | Προβολή | OPAC |