Reliability and biometry: statistical analysis of lifelength/

Corporate Author: Conference on Reliability and Biometry Florida State University).
Other Authors: Proschan, Frank,, Serfling, R. J.
Format: Book
Language:English
Published: Philadelphia: Society for Industrial and Applied Mathematics, c1974
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Πανεπιστήμιο Κύπρου - Ανοιχτό Πανεπιστήμιο ΚύπρουQH323.5.C66 19741ΠροβολήOPAC