Applications of interferometry/

Main Author: Williams, William Ewart
Format: Book
Language:English
Published: London: New York: Methuen John Wiley, [1950]
Edition:[4th ed.]
Series:Methuen's monographs on physical subjects
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Πανεπιστήμιο Κύπρου - Ανοιχτό Πανεπιστήμιο ΚύπρουQC411.W5 19501ΠροβολήOPAC