Testing static random access memories: defects, fault models, and test patterns/
| Main Author: | |
|---|---|
| Format: | Book |
| Language: | English |
| Published: |
Boston:
Kluwer Academic,
c2004
|
| Series: | Frontiers in electronic testing
|
| Subjects: |
| Βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός Αντιτύπων | Πληροφορίες | Κατάσταση |
|---|---|---|---|---|
| Πανεπιστήμιο Κύπρου - Ανοιχτό Πανεπιστήμιο Κύπρου | TK7895.M4H343 2004 | 1 | Προβολή | OPAC |