Holdings: Thin film analysis by X-Ray scattering /

Main Author:	Birkholz, Mario.
Other Authors:	Fewster, Paul F., Genzel, Christoph
Format:	Book
Language:	English
Published:	Weinheim : Wiley, 2006.
Subjects:	Thin films.

Βιβλιοθήκη	Ταξιθετικός αριθμός	Αριθμός Αντιτύπων	Πληροφορίες	Κατάσταση
Τεχνολογικό Πανεπιστήμιο Κύπρου	-	2	Προβολή	OPAC