Ανάπτυξη, χαρακτηρισμός και μελέτη μεταλλικών νανοκρυστάλλων στη διεπιφάνεια SiO2/HfO2 με εφαρμογή σε δομές στοιχείων μνήμης/
Main Author: | Σαργένης, Χρήστος |
---|---|
Corporate Author: | Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο. Τμήμα Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών |
Format: | Book |
Language: | Greek |
Published: |
Αθήνα:
[χ.ό.],
2007
|
Subjects: |
Similar Items
-
Εναπόθεση με ΜΒΕ και ηλεκτρικός χαρακτηρισμος λεπτών υμένιων διηλεκτρικών CeO2 και HfO2 : εφαρμογή στα Mosfet /
by: Σωτηρόπουλος, Ανδρέας Κ.
Published: (2009) -
The Al2SiO5 polymorphs/
by: Kerrick, Derrill M.
Published: (1990) -
Παρασκευή 3Cao SiO2 με τεχνικές υγρής σύνθεσης /
by: Μουρελάτου, Ευαγγελία - Αλίκη -
Φωταύγεια και φαινόμενα μνήμης νανακρυστάλλων Si εμφυτευμένων σε μήτρα SiO2 /
by: Κατσιώνης, Γεώργιος -
Κατασκευή και φωταύγεια υπερδομών νανοκρυσταλλικού πυριτίου/οξειδίου του πυριτίου (nc-Si/SiO2) /
by: Φωτόπουλος, Παναγιώτης