Μελέτη λεπτών οξειδίων Si για εφαρμογή σε χωρητικότητες MOS/

Main Author: Σαλωνίδου, Αθήνα
Corporate Authors: Εθνικό και Καποδιστριακό Πανεπιστήμιο Αθηνών. Σχολή Θετικών Επιστημών., Τμήμα Πληροφορικής και Τηλεπικοινωνιών
Format: Book
Language:Greek
Published: Αθήνα: [χ.ό.], 2003
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Εθνικό και Καποδιστριακό Πανεπιστήμιο ΑθηνώνΜΔ 621.381 ΣαλΑ μ 20032ΠροβολήOPAC