Reliability and radiation effects in compound semiconductors

Main Author: Johnston, Allan.
Corporate Author: ebrary, Inc.
Format: Book
Language:English
Published: Hackensack, N.J. : World Scientific, 2010.
Subjects:
Online Access:http://site.ebrary.com/lib/ucy/Doc?id=10479993

Internet

http://site.ebrary.com/lib/ucy/Doc?id=10479993
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Πανεπιστήμιο Κύπρου - Ανοιχτό Πανεπιστήμιο Κύπρου-1ΠροβολήOPAC