ISTFA '96 proceedings of the 22nd International Symposium for Testing and Failure Analysis : 18-22 November 1996, Los Angeles, California.

Corporate Authors: International Symposium for Testing and Failure Analysis Los Angeles, Calif.), ASM International. Electronic Materials and Processing Division.
Format: Book
Language:English
Published: Materials Park, Ohio : ASM International, c1996.
Subjects:
Online Access:http://site.ebrary.com/lib/ucy/Doc?id=10323517

Internet

http://site.ebrary.com/lib/ucy/Doc?id=10323517
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Πανεπιστήμιο Κύπρου - Ανοιχτό Πανεπιστήμιο Κύπρου-1ΠροβολήOPAC